用工作流解决方案2合1清洁分析

演示摘要"未来对产品清洁的要求 - 作为常规的一部分导电和磨料颗粒的鉴定" del Dr. Nicol Ecke

使用LBS系统(激光诱导的等离子体光谱)有效地应用于产品清洁的未来要求

在柏林的第10次专业大会“Technische Sauberkeit”(技术清洁)中,徕卡微系统展示了参与者可以为未来的产品进行准备,使其成为日常生活的一部分。毫无疑问,技术清洁是一种质量特征,在产品的功能和持续时间内具有决定性的作用。这可以通过可靠的坚硬,磨料和导电颗粒的可靠识别来保证这一点。

俯瞰导电和磨料颗粒可以花费你非常昂贵。

对汽车行业,石油和润滑油和航空航天部门的产品清洁的快速安全分析始终是评估产品质量的关键因素。然而,多年来,产品的清洁已经获胜,因为部件和组件越来越小,功率密度增加。导电和磨蚀性颗粒具有很大的潜力,导致损坏,并且在极端情况下,可能导致生产的失败或产生可能涉及公司巨大成本的声称。为了避免这些成本因素并满足不断增长的外部和监管要求,许多公司面临着将有效的清洁过程纳入其工作常规的挑战。

在工作流程中清洁,删除和分析。 

Pall和Leica Microsystems提供隔行扫描的清洁过程,可以在日常工作动态中融入完美。在这种情况下,在PALL的清洁柜中进行产品的颗粒,然后在Leica Microsystems溶液的溶液的帮助下提取和分析颗粒。结果,可以快速准确地评估损坏的可能性,以便在为时已晚之前采取适当的措施。

不要低估金属颗粒损坏的可能性。

金属和磨料颗粒损坏的可能性远高于非金属或软颗粒的损伤。一方面,金属和磨料颗粒是苛刻的并且对机械系统造成损坏,另一方面,金属具有不同的电导率水平,因此,如果没有检测到它们,则产品中可能发生严重的问题,例如电子系统上的短路。一种找出它是否是金属的一种方法包括使用亮度方法。然而,在这种情况下,不保证识别所有金属颗粒,并且它不提供有关金属电导率的信息。因此,为了帮助在本主题中,Leica Microsystems提供了可以快速且容易地应用的光学和化学分析的组合,同时可以获得安全结果。

减少光学分析损坏的潜力。

用于控制产品清洁的最常用方法之一是光学分析。它提供了各种各样的结果,简单且快速处理,并已用于许多标准;简而言之,它是参考模型的东西。但是光学分析通常不足以跟上变化,因为它不提供导电和/或研磨特性的可靠结果。这些只能通过额外的分析来确定,例如化学分析。

由于LIBS系统获得快速准确的结果。

Leica Microsystems提供除光学分析以外的附加功能:所谓的Libs系统(激光诱导的塑料型塑料型缩略词)。一种基于激光技术的化学分析工具,几乎瞬间提供可靠的结果。使用标准过程一组光学分析:通过粒子的大小,数量和几何体自动扫描和确定过滤器。

然后,例如,可以用LBS系统自动分析不同种类的颗粒,或者,如有必要,可以单独迁移颗粒yanalyzed。可以在光学模式和化学物质之间的任何时间改变。并且,通过这种方式,LBS系统可以很容易地集成到清洁过程中。虽然REM / EDX系统经常对环境,样本或用户施加非常苛刻的要求,例如防辐射,平面样本或专家知识,但LBS系统可以很容易地集成到实验室中。 由于其直观的用户界面和高度自动化,用户能够快速安全地进行分析。

将LIBS系统集成在日常流程中,并为产品的可靠性做好准备。

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