用工作流解决方案2合1清洁分析

利用LIBS系统(激光诱导的击穿光谱学),实现有效的清洁产品的未来要求

Leica Microsystems展示了第10届专家大会的参与者"技术清洁"柏林如何为未来的产品清洁需求做好准备,并使它们成为常规的一部分。技术清洁是质量的特征,对产品的耐用性具有显着影响。这可以通过可靠的耐磨性和导电颗粒的可靠识别来保证这一点。

忽视任何导电和磨料颗粒都可以花费昂贵。

对汽车,石油和润滑工业的清洁以及航空航天部门的快速可靠分析,始终是产品质量的关键因素。然而,多年来,产品的清洁变得越来越重要,因为部件和组件变得越来越小,而且功率强度增加。导电和磨蚀性颗粒具有很大的潜力,导致损坏,并且在极端情况下,可能会导致产品的故障和缺陷,这可能导致公司的重大成本。为避免这些成本因素并满足越来越大的外部和监管需求,许多公司正面临在日常生活中插入有效的清洁过程的挑战。

在工作流程中清洁,提取和分析。 

Pall和Leica Microsystems提供相互连接的清洁过程,可以在日常工作过程中毫无困难地集成。产品的部件清洁在PALL清洁柜中以提取颗粒,因此用Leica Microsystems溶液分析。结果提供了快速和精确的估计损坏的潜力,从而在为时已晚之前进行适当的行动。

不应低估金属颗粒损坏的可能性。

金属和磨料颗粒的损坏的潜力远高于非金属或光颗粒的潜力。金属和磨料颗粒是难以损坏的机械系统。金属也具有不同的电导率水平,并且它们缺乏考虑可能导致产品的严重缺陷,例如电子设备的短路。找出我们用金属做的第一个选择是闪耀的。然而,该程序不保证已经识别了所有金属颗粒并且不提供有关金属电导率的任何信息。为了阐明问题,Leica Microsystems使用光学和化学分析的组合,可以快速且轻松地应用,并提供可靠的结果。

利用光学分析限制损坏电位。

控制产品清洁的最常用方法之一是光学分析。提供广泛的结果,它快速且易于使用,并用于许多标准 - 这意味着它是一种金牌标准。但光学分析通常不足以跟上变化,因为它不提供关于导电和/或研磨性能的可靠结果。这些只能通过进一步的分析来确定,例如化学分析方法。

通过LIBS系统获得快速准确的结果。

Leica Microsystems为光学分析提供了另一个额外的功能:所谓的Libs系统(激光诱导击穿光谱)。一种基于激光技术的化学分析工具,可在几秒钟内提供可靠的结果。使用建立的光学分析的标准过程 - 将自动扫描过滤器,并确定颗粒的尺寸,数量和几何形状。然后,例如,可以用Libs自动分析不同类别的颗粒,或者,如有必要,可以单独重新计算颗粒并分析颗粒。您可以随时从光学到化学模式切换。这意味着LIB可以很容易地集成到清洁过程中。虽然REM / EDX系统通常对环境,样本或用户的要求造成更高的要求,例如辐射保护,平面样本或专业知识,但LIBS系统可以轻松集成到实验室中。 通过其直观的用户界面和高度自动化,用户能够快速可靠地进行分析。

通过将LIBS系统集成到您的日常工作过程中,您将为未来的产品清洁做好准备。

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