徕卡EM TXP 离子束铣削系统 电子显微镜的样品制备 产品展示 首页 徕卡 徕卡微系统

徕卡EM TXP是 目标准备装置 对于 铣,锯,磨抛光 样品在检查之前 扫描电镜LM 技术。

集成的立体显微镜可以精确定位并轻松准备几乎看不见的目标。

使用样品枢轴臂,可以直接以0°到60°之间的角度或与正面成90°的角度观察样品,从而用 目镜刻度.

仅供研究使用
徕卡EM TXP-目标准备设备

主要特点

集成的自动过程控制

具有自动E-W引导机制的集成过程控制,受力调节的进料控制和倒数功能,使用户无需进行费时的常规样品制备。

表面光洁度和目标检查

使用集成的立体显微镜进行表面光洁度和目标检查意味着用户不必为了距离估计和表面评估而转移样品,从而提高了用户效率。

各种工具刀片

各种工具刀片

多种工具刀片可在不从仪器中取出样品的情况下对样品进行铣削,锯切,钻孔,研磨和抛光。通过立体显微镜观察过程的能力可节省时间和成本。

多层样品检验

多层样品检验

质量控制中的工作流程: 将目标表面处理系统Leica EM TXP与光学显微镜Leica DM2700 M结合使用,可以减少所需的程序,简化工作流程并产生可靠而精确的结果。