1:SiC磨料纸的横截面L 2:贴面的横截面L 3:在-120℃L 4中制备的同轴聚合物纤维(水溶性):油页岩(纳米孔),用EM TIC 3X透露(旋转级)总样品大小Ø25毫米

离子铣削的可重复结果

三离子束铣削系统,EM TIC 3X允许生产横截面和平面 用于扫描电子显微镜(SEM),微观结构分析(EDS,WDS,AUGER,EBSD)以及AFM调查的表面。

通过EM TIC 3X,您可以在室温或低温下实现几乎任何材料的高质量表面,以尽可能近的原生状态揭示样品的内部结构。

与以前从未如此方便!

效率

关于离子束米勒效率的确定的确是具有高吞吐量的优质结果。与以前的版本相比,我们可以将铣削速率提高2个因素,但是独特的三离子束系统优化了准备质量并减少了工作时间。

最多可以在一个会话中处理三个样本。横截面和抛光可以通过一个阶段进行。

工作流解决方案为后续准备仪器或分析系统提供安全有效地转移样品。

灵活的系统 - 随时适应您的需求 

灵活的阶段选择使EM TIC 3X不仅适用于高穿过的完美乐器,而且是合同实验室的完美乐器。根据您的需求,可以使用可互换的级别单独配置EM TIC 3X:

  • 标准阶段
  • 多个样本阶段
  • 旋转级
  • 冷却阶段或
  • 真空冷冻转移扩展坞

用于标准制备,高通量加工的应用,以及在低温下的聚合物,橡胶或生物材料如聚合物,橡胶或生物材料的制备。

环保工作流解决方案

与EM TIC 3X组合的VCT对接端口为浮出的环境敏感和/或低温样品提供完美的工作流程,可以是 

  • 生物, 
  • 地质或者
  • 工业材料。

随后可以在惰性气体/真空/低温条件下转移到我们的涂层系统EM ACE600或EM ACE900和/或SEM系统。

标准工作流解决方案 - 使用EM TXP创建协同作用 

在使用EM TIC 3X之前,通常需要机械制剂以尽可能接近感兴趣的区域。这 EM TXP.  是一种独特的目标浮出系统,用于在跟随仪器前进行切割和抛光样品,诸如EM TIC 3X的仪器。

EM TXP. 专门设计用于通过锯切,铣削,磨削和抛光预制样品。 它擅长具有挑战性的标本,其中精确定位和准备困难的目标变得容易。 

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