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徕卡EM TIC020 离子束铣削系统 电子显微镜的样品制备 产品展示 首页 徕卡 徕卡微系统

三离子束磨机用于坡度切割的制备 徕卡EM TIC020

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取而代之 徕卡EM TIC 3X

2011年8月,新 徕卡EM TIC 3X 三重离子束切割机问世,取代了徕卡EM TIC020!

The 徕卡EM TIC020三重离子束磨机  for preparation of  坡度削减 允许准确而有效 特定地点的样品制备 对于 SEM分析.

获得 高质量的横截面 从几乎任何材料。样品架可容纳最大50x50x10毫米的样品。 需要最少的机械准备。该系统具有三个离子束,带有三轴位移台和观察显微镜。

仅供研究使用
徕卡TIC020三重离子束切割器